TC660涂層測(cè)厚儀探頭選用技術(shù)數(shù)據(jù)
發(fā)布時(shí)間：2020-11-26 17:03瀏覽次數(shù)：
HRC華銳昌TC660涂層測(cè)厚儀是一款便攜式涂層測(cè)厚儀,，它能快速,，無損,，精確地進(jìn)行涂,、鍍層厚度的測(cè)量，被廣泛地用于制造業(yè),，金屬加工業(yè),，化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域,，
深圳市華銳昌科技有限公司作為專業(yè)的涂層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家,，產(chǎn)品質(zhì)量可靠、售后專業(yè),，為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品及服務(wù),。
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TC660涂層測(cè)厚儀采用了兩種測(cè)厚方法：磁性法、渦流法,，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性涂鍍層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電涂層的厚度,。
此款涂層測(cè)厚儀采用了液晶顯示屏，超清屏幕顯示,，帶背光,，在光線很暗的場(chǎng)合依然正常使用，儀器界面全中文菜單,，簡(jiǎn)單明了,，具有單次、連續(xù),、二次測(cè)量方式,。
為了更好的使用TC660涂層測(cè)厚儀，下表列出了涂層測(cè)厚儀探頭選用的技術(shù)數(shù)據(jù),，方便大家給儀器選擇適用的探頭,，涂層測(cè)厚儀TC660選用探頭技術(shù)數(shù)據(jù)表：
|
探頭 |
F400 |
F1 |
F1/90 |
F10 |
N400 |
N1 |
CN02 |
|
測(cè)量原理 |
磁性 |
渦流 |
|
|
測(cè)量范圍（μm） |
0～400 |
0～1250 |
0～10mm |
0～400 |
0～1250 |
10～200
|
|
測(cè)量精度μm |
一點(diǎn)校準(zhǔn) |
±[(1～3)%H+0.7] |
±（3%H+1） |
±（3%H+10） |
±（3%H+1） |
±（3%H+1.5） |
±(3%H+1) |
|
二點(diǎn)校準(zhǔn) |
±（1～3％H+0.7） |
±[(1~3)%H+1] |
±[(1～3)%H+10] |
±[(1～3)%H+1] |
±[(1～3)%H+1.5] |
--- |
|
低限分辨率 |
0.1 |
0.1 |
1 |
0.1 |
0.1 |
1 |
|
最小曲率半徑(mm) |
(凸)1 |
1.5 |
平直 |
10 |
1.5 |
3 |
僅為平面 |
|
最小面積直徑(mm) |
￠3 |
￠7 |
￠40 |
￠4 |
￠5 |
￠7
|
|
基本臨界厚度(mm) |
0.2 |
0.5 |
2 |
0.3 |
0.3 |
無限制 |
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